有机发光二极管(OLED)寿命测量系统

    Ossila OLED寿命系统旨在为OLED寿命测试提供长期和低成本的解决方案。寿命测试是优化你的OLED设备稳定性并大程度减小退化的必要工具。
  1. 详细信息

有机发光二极管(OLED)寿命测量系统

Ossila OLED寿命系统旨在为OLED寿命测试提供长期和低成本的解决方案。寿命测试是优化你的OLED设备稳定性大程度减小退化的必要工具
Ossila将源测量单元与专门设计的测试板和直观的软件相结合,提供了一个强大和用户友好的OLED寿命测试系统。它可以8像素和6像素Ossila基片系统兼容使用户能够轻松地制造和测试OLED器件。产品免费保修2年。

 

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光电二极管盖子

系统概述

OLED寿命测试系统的主要组件包括一个源测量单元,一个Ossila测试板(手动或自动)和一个特别设计的光电二极管盖。这些都是通过OLED Lifetime软件控制的,这使您的测量更容易,更节省时间。

自动化测试板可以控制一系列开关,这些开关可以在没有用户干预的情况下循环通过像素。电子元件垂直堆叠,减少了系统的占地面积,减少了实验室空间的浪费。这种小巧的设计使用户可以将寿命测试仪放置空间有限的地方,如手套箱。

器件被固定在光电二极管盖下的测试板内。该系统利用两个内置的源测量单元(smu)来表征该设备。一个SMU通过测试板进行JV操作,而另一个SMU测量光电二极管电流。测试板和光电二极管通过BNC电缆连接到源测量单元

请注意,虽然光电二极管的光谱灵敏度与人眼相匹配,但它没有被校准为绝对光度测量,只测量光电流.

 

部件清单

源测量单元

复用板测试板/ 6像素推合测试板/ 8像素推合测试板

Centronic OSD50-E眼反应光电二极管的光电二极管盖& 带光学接口的标准盖

BNC电缆线 x 2

铝箱

OLED寿命测量系统软件 + 用户指南

 

直观和高度定制的OLED寿命软件套件执行JV, JVL*和寿命测量。

用户可以执行一个初始JV/JVL扫描以确定LED和光电二极管的工作电流。然后,这些数据被用来选择一个LED或光电二极管电流,在其中开始寿命测量。电压自动调整,以保持LED电流恒定超过所需的测量时间。

JVL和生命周期数据都可以输出到.csv文件,以便于编制文档。

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OLED寿命测试软件控制面板

 更多信息请参见OLED寿命测量系统软件指南。

*光度测量是相对的,基于测量的光电二极管电流,而不是绝对的。


功能特征

系统类型

手动

自动

±10 V 源区段

±333 μV 源分辨率

±100 mA 测量范围

±10 nA 测量分辨率

是否包括软件

IV 曲线测量

OLED 寿命测量

适用于S101, S211S171

自动匹配开关

多设备寿命测量




技术规格

电压范围

±100 μV to ±10 V

电流范围

10 nm to 100 mA

基片尺寸

20 mm x 15 mm

基片系统兼容性

S101S211S171

外形尺寸 – 手动版 (T2004)

源测量单元:
: 123 mm
: 50 mm
: 185 mm


测试板:
: 105 mm
: 40 mm
: 125 mm

外形尺寸 – 自动版 (T2005)

: 155 mm
: 73 mm
: 320 mm




软件要求

支持的操作系统

Windows 10 (32-bit or 64-bit)

显示器z低分辨率

1600 x 900

推荐的显示器分辨率

1920 x 1080

需要的硬盘空间

400 MB