共聚武汉，镜见未来 | CIF亮相2025年全国电子显微学学术年会！

   2025年9月26日至30日，为期五天的2025年全国电子显微学学术年会在武汉国际会议中心（武汉洲际酒店）圆满落幕。年会学术交流内容精彩纷呈，涵盖了球差校正透射电镜、原位显微学、高分辨扫描电镜、低温电镜、扫描探针显微镜等几乎所有前沿技术领域，并深入探讨了这些技术在物理、化学、生命科学、医学、新能源、材料等众多学科的应用与突破。

   CIF携透射电镜样品杆清洗机、扫描电镜等离子清洗机、透射电镜样品杆储存仪、离子溅射仪系列设备惊艳亮相！与众多科研工作者就如何通过优化制样流程来提升电镜图像质量、如何解决特殊样品制备中的挑战等话题进行了深入交流。

     会议期间，CIF的展台与交流区吸引了众多新老朋友的到访。我们介绍了在样品制备、耗材及技术支持等领域的解决方案，并就大家在实际科研工作中遇到的挑战进行了坦诚的探讨。

  此次武汉之行，CIF不仅深化了与业界的联系，更坚定了我们以创新技术和服务助力中国电子显微学发展的决心。

  年会虽已落幕，但探索微观世界的征程仍在继续。CIF将带着本次年会的收获与启发，继续秉持“精益求精，服务科研”的宗旨，不断推出更优质的产品与更专业的服务，与全国显微学同仁一道，踔厉奋发，为科技强国之梦贡献力量！

   感谢每一位莅临交流的朋友，我们下次再会！