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CIF 透射电镜(TEM)样品杆清洗机采用远程离子清洗源设计,清洗快速高效, 低轰击损伤, 同时可实现常规等离子清洗。 主要用于TEM透射电镜样品杆的等离子体清.....
CIF专为处理粉体如粉状、颗粒状材料样品而设计的粉体专用等离子清洗机,可以高效率地处理微细的甚至分子级别的超细粉体材料,改变传统真空等离子清洗机无法处理粉体样品.....
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